CT 1M/2M - 在线式测温仪

由于其短测量波长和高达2200℃的高温范围,optris CT 1M和2M高温测温仪适用于金属、金属氧化物和陶瓷的高温测量。红外高温测温仪的短测量波长还会降低低水平或改变发射水平时导致的测量误差。小型探头可在有限和狭窄的空间中轻松安装。此外,即使在高达125°C的环境温度下也可靠地测量温度。

概述

optrisCT 1M和2M红外测温仪适用于需要短测量波长的温度测量。它们可准确可靠地测量例如:金属加工(例如焊接,烧结)中的金属表面以及金属氧化物和陶瓷,温度量程高达2200℃。

应用领域

金属冶炼、金属二次加工、热处理、新材料、真空炉、感应加热等。

产品优势


optris CT 1M/2M型高温测温仪

1.0μm和1.6μm短波长光谱响应,当今世界紧凑型红外传感头,直径14mm和28mm的长度适合于狭小空间,具有40:1和75:1光学分辨率,温度测量范围从250℃到2200℃(分段),最小可测量1.5m的小目标,1ms款速响应时间,探头坚固在125℃的环境温度下工作而无需冷却,分离式电子变送盒,带有易于调节的程序按键和带有背光LCD显示窗口。

技术规格

测量参数

  • 温度量程(通过设置键或软件测量)

    485°C~1050°C(1ML)
    650°C~1800°C(1MH)
    800°C~2200°C(1MH1)
    250°C~800°C(2ML)
    385°C~1600°C(2MH)
    490°C~2000°C(2MH1)

  • 光谱范围

    1.0μm(1M);1.6μm(2M)

  • 光学分辨率(90%能量)

    CT 1ML/2ML:40:1(2.7mm@110mm)
    CT 1MH/1MH1/2MH/2MH1:75:1(1.5mm@110mm)

  • 系统精度1)(环温=23±5°C)

    ±(0.3%读数+2°C)

  • 重复精度1)(环温=23±5°C)

    ±(0.1%读数+2°C)

  • 温度分辨率

    0.1K

  • 曝光时间2)

    1ms(90%)

  • 发射率/增益(通过设置键或软件调节)

    0.100~1.100

  • 透射率/增益(通过设置键或软件调节)

    0.100~1.100

  • 信号处理(分别通过设置键或软件可调具体参数)

    峰值保持、谷值保持、平均值,延长保持阈值和滞后功能

基本参数

  • 环境等级

    IP65(NEMA-4)

  • 环境温度

    探头:-20°C~100°C(1M);-20°C~125°C(2M)
    电子盒:-20°C~85°C

  • 存储温度

    -40°C~100°C(1M);-20°C~125°C(2M)
    电子盒:-40°C~85°C

  • 相对湿度

    10~95%,不结露

  • 震动

    IEC 60068-2-6(正弦波形)
    IEC 60068-2-64(宽频噪音)

  • 冲击

    IEC 60068-2-27(25G和50G)

  • 重量

    探头:40g
    电子盒:420g

电气参数

  • 模拟输出

    0/4-20mA,0-5/10V、热电偶J、K、报警

  • 报警输出

    24V/50mA(常开)

  • 可选

    继电器:2×60 VDC/42V 交流;0.4A;光学隔离

  • 数字输出(可选)

    USB、RS232、RS485(可选)、Modbus RTU(串行通信协议)、Profibus DP(现场总线多功能从站设计)、以太网

  • 输出阻抗

    mA Ma×500Ω(直流8-36V)
    mV Min 100kΩ(纯阻抗负载)
    热电偶20Ω

  • 信号输入

    可编程功能输入,用于外部发射率设置/环境温度补偿,触发(保持功能复位)

  • 电缆长度

    3m(标准)、8m、15m

  • 电源

    直流8-36V

  • 电流消耗

    Max 100mA


  • 1)Ɛ=1,曝光时间:1s


  • 2)低信号水平时动态适应

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